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patentrecht:pruefungsstellen

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Prüfungsstellen

§ 27 (1) Nr. 1 PatG

Im Patentamt werden gebildet [→ Aufbau des Patentamts] Prüfungsstellen für die Bearbeitung der Patentanmeldungen und für die Erteilung von Auskünften zum Stand der Technik (§ 29 Abs. 3);

§ 27 (1) Nr. 2 PatG → Patentabteilungen
§ 27 (2) PatG → Obliegenheiten der Prüfungsstelle
§ 27 (3) PatG → Beschlussfähigkeit der Patentabteilung
§ 27 (4) PatG → Vorsitzender der Patentabteilung
§ 27 (5) PatG → Geschäftsbetrauung
§ 27 (6) PatG → Ausschließung und Ablehnung der Prüfer und der übrigen Mitglieder der Patentabteilungen
§ 27 (7) PatG → Sachverständige bei Beratungen in den Patentabteilungen

§ 2 DPMAV → Prüfungsstellen und Patentabteilungen

siehe auch

§ 27 (1) PatG → Aufbau des Patentamts
§§ 26 bis 33 PatG → Patentamt
PatG → Patentgesetz

patentrecht/pruefungsstellen.txt · Zuletzt geändert: 2017/01/24 14:10 (Externe Bearbeitung)